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金相分析-晶粒度、低倍组织检测

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金相分析-晶粒度、低倍组织检测

晶粒度检测

晶粒度(grain size)—用于描述晶粒大小的参数,常用的表示方法:单位体积的晶粒数目(ZV);或单位面积内的晶粒数目(ZS)或晶粒的平均线长度(或直径)表示。 晶粒度可用晶粒的平均面积或平均直径表示。工业生产上采用晶粒度等级来表示晶粒大小。标准晶粒度共分8级,1-4级为粗晶粒,5-8级为细晶粒。  一般晶粒度越大,也就是越细越好。 

低倍组织 

金属的低倍组织缺陷检验也称为宏观检验。它是用肉眼或不大于十倍的放大镜检查金属表面、断口或宏观组织及其缺陷的方法。宏观检验在金属铸锭、铸造、锻打、焊接、轧制、热处理等工序中,是一种重要的常用检验方法。这种检验方法操作简便、迅速,能反映金属宏观区域内组织和缺陷的形态和分布特点情况。使人们能正确和全面的判断金属材料的质量,以便指导科学生产、合理使用材料。还能为进一步进行光学金相和电子金相分析作好基础工作。       

 宏观检验包括低倍组织及缺陷检验(包括酸蚀、硫印、塔形车削以及无损控伤等方法)和断口分析等。        

较典型的宏观缺陷有偏析、疏松、缩孔、气泡、裂纹、低倍夹杂、粗晶环等。

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